一种用于太赫兹雷达高分辨成像的自适应处理方法
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摘要

本发明公开了一种用于太赫兹雷达高分辨成像的自适应处理方法。针对现有太赫兹雷达高分辨成像方法存在需要人工调整的参数,以及批量处理时不合格图像需要人工判断的问题。本方法对各角度采用其附近回波能量的变异系数来自适应识别该角度能否作为子孔径边界,代替原有的能量门限。本方法依次使用不同的门限来分割背景与目标,采用统计目标图像中闭运算之后不会与其他连通区域融合的孤立连通区域数目的方法,来自适应得到最佳分割门限。本方法使用寻找最佳分割目标图像中值为8邻域中最大值的像素的方式,将成像结果分解为散射点组。并采用根据散射点位置关系来识别目标图像中是否存在孤立的一字排列散射点的方法来自适应挑选出不合格的图像。

基本信息
专利标题 :
一种用于太赫兹雷达高分辨成像的自适应处理方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111580105A
申请号 :
CN202010488574.3
公开(公告)日 :
2020-08-25
申请日 :
2020-06-02
授权号 :
CN111580105B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
李晋曾梧桐皮亦鸣闵锐程添
申请人 :
电子科技大学
申请人地址 :
四川省成都市高新西区西源大道2006号
代理机构 :
成都点睛专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孙一峰
优先权 :
CN202010488574.3
主分类号 :
G01S13/90
IPC分类号 :
G01S13/90  G01S7/41  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S13/00
使用无线电波的反射或再辐射的系统,例如雷达系统;利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统
G01S13/89
用于绘地图或成像
G01S13/90
使用合成孔径技术
法律状态
2022-05-13 :
授权
2020-09-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 13/90
申请日 : 20200602
2020-08-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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