表层随机介质模型建立方法、装置、电子设备及介质
实质审查的生效
摘要

本申请公开了一种表层随机介质模型建立方法、装置、电子设备及介质。该方法可以包括:根据自相关函数,建立随机过程功率谱与二维随机场;根据随机过程功率谱与二维随机场,计算随机功率谱;计算随机功率谱的二维傅里叶逆变换,获得随机扰动,进而计算随机扰动的均值及方差;建立关于自相关函数的随机扰动,进而获得随机介质模型。本发明利用随机介质建立的表层速度场模拟的地震数据,在地震波走时准确的前提下,保留了地层不均匀性产生的高频扰动,使得模拟数据更接近野外实际。

基本信息
专利标题 :
表层随机介质模型建立方法、装置、电子设备及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114428314A
申请号 :
CN202011092790.2
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2020-10-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
赵磊刘卫华
申请人 :
中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院
申请人地址 :
北京市朝阳区朝阳门北大街22号
代理机构 :
北京思创毕升专利事务所
代理人 :
孙向民
优先权 :
CN202011092790.2
主分类号 :
G01V1/30
IPC分类号 :
G01V1/30  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V1/00
地震学;地震或声学的勘探或探测
G01V1/28
地震数据的处理,例如,分析、用于解释、用于校正
G01V1/30
分析
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01V 1/30
申请日 : 20201013
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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