一种智能化全自动非损伤微测系统及方法
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摘要

本发明涉及人工智能与电子测试设备技术领域,尤其涉及一种智能化全自动非损伤微测系统及方法。一种智能化全自动非损伤微测系统,包括:中央处理器、显微镜、用于采集待测样品与流速传感器位置信息的人工智能成像装置、流速传感器、用于控制和驱动多个待测样品与流速传感器的驱动装置。所述中央处理器用于接收人工智能成像装置反馈的待测样品和流速传感器尖端的空间位置、大小、轮廓等信息,并依据文献大数据对扫描图样进行人工智能自动地选取待测样品检测位点,接收流速传感器反馈的流速数据信号,再通过图像识别技术向驱动装置发送自动调整待测样品与流速传感器尖端位置的指令,并依照菲克扩散定律自动控制流速传感器在待测样品的检测位点处自动进行流速测试。还提供了一种智能化全自动非损伤微测方法,通过中央处理器、驱动装置、人工智能成像装置与流速传感器的配合,采用图像识别技术对流速传感器与待测样品进行空间定位,并对待测样品与流速传感器尖端进行图像扫描。根据扫描图样与文献大数据全自动调整待测样品与流速传感器尖端的空间位置,并依据菲克扩散定律自动按照预设好的运动轨迹进行实时的待测样品流速数据数值采集,并最终输出为完整的流速数据表格。

基本信息
专利标题 :
一种智能化全自动非损伤微测系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371301A
申请号 :
CN202011094946.0
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2020-10-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
许越
申请人 :
旭月(北京)科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区苏州街49-3号盈智大厦601
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202011094946.0
主分类号 :
G01N35/00
IPC分类号 :
G01N35/00  G01P5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析;及材料的传送
法律状态
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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