一种基于测量平差的双目相机坐标系配准方法
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摘要
一种基于测量平差的双目相机坐标系配准方法，包括步骤：S1，固定双目相机A和双目相机B；S2，将配准块置于双目相机A正前方，充满双目相机A的测量视野，用双目相机A测量配准块上基准点的坐标，计算基准点两两之间的距离值Lij；S3，将配准块置于第一配准位置，双目相机A和双目相机B测量基准点坐标，得到测量值MAk和MBk，k＝1,2,3,4；S4，对距离值Lij和测量值MAk和MBk进行测量平差优化，得到优化值L1ij、NAk和NBk，k＝1,2,3,4；S5，将配准块置于第二配准位置，重复步骤S3和S4中的测量和测量平差，得到优化值L1ij、NAk和NBk，k＝5,6,7,8；S7，对矩阵NA和NB进行最小二乘配准，得到双目相机A坐标系和双目相机B坐标系之间的旋转矩阵R和平移向量T，提高了双目相机坐标系的配准精度。
基本信息
专利标题 ：
一种基于测量平差的双目相机坐标系配准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112304220A
申请号 ：
CN202011153584.8
公开（公告）日 ：
2021-02-02
申请日 ：
2020-10-26
授权号 ：
CN112304220B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
万安赵越李转霞魏述燕张少亮马智萌董和媛刘昶陈颖鞠丽梅
申请人 ：
中国人民解放军陆军装甲兵学院
申请人地址 ：
北京市丰台区杜家坎21号
代理机构 ：
北京智泽德世专利商标代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
马龙
优先权 ：
CN202011153584.8
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2021-02-23 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20201026
申请日 : 20201026
2021-02-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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