一种集成电路参数化方法、装置、存储介质及终端设备
实质审查的生效
摘要

本申请公开了一种集成电路参数化方法、装置、存储介质及终端设备,所述方法包括获取集成电路对应的电路版图;识别所述电路版图中的元器件的区域信息;基于获取到的区域信息确定所述电路版图的位置参量。本申请在获取到集成电路的电路版图后,识别电路版图中的元器件的区域信息,并基于区域信息将电路版图转换为位置参量,通过位置参量来表示电路版图中各部件的位置信息以及位置关系,这样需要对电路版图进行调整后,可以通过对位置参量进行调整来实现,从而可以提高电路版图的调整效率,进而提高集成电路的生产效率。

基本信息
专利标题 :
一种集成电路参数化方法、装置、存储介质及终端设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114519328A
申请号 :
CN202011309075.X
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2020-11-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
林智远唐延民唐振宇
申请人 :
TCL科技集团股份有限公司
申请人地址 :
广东省惠州市仲恺高新区惠风三路17号TCL科技大厦
代理机构 :
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
温宏梅
优先权 :
CN202011309075.X
主分类号 :
G06F30/392
IPC分类号 :
G06F30/392  G06F30/398  G06N3/04  G06N3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/392
平面规划或布局,例如,分区或放置
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/392
申请日 : 20201119
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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