集成电路的验证方法、装置、电子设备、存储介质
实质审查的生效
摘要

一种集成电路的验证方法、装置、电子设备、存储介质。该集成电路的验证方法包括:获取多个异步时序器件对;根据多个异步时序器件对,对集成电路执行模型构建处理,以得到待仿真电路;对待仿真电路进行前端仿真验证;其中,模型构建处理包括:针对每个异步时序器件对:根据第一时序器件和第二时序器件之间的电路特性,确定响应时间;根据响应时间,构建响应模型;将响应模型添加入集成电路中基于第一时序器件和第二时序器件确定的数据链路。该方法能够精准地对异步界面中的各个异步时序器件对注入亚稳态信号,以较小的改动实现准确、快速的逻辑仿真,将异步界面的验证提前到前端仿真阶段执行,极大地降低了定位潜在问题的难度,缩减了验证时间。

基本信息
专利标题 :
集成电路的验证方法、装置、电子设备、存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114548006A
申请号 :
CN202210171611.7
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
魏洁刘勋
申请人 :
海光信息技术股份有限公司
申请人地址 :
天津市华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
代理机构 :
北京市柳沈律师事务所
代理人 :
彭久云
优先权 :
CN202210171611.7
主分类号 :
G06F30/33
IPC分类号 :
G06F30/33  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/33
设计验证,例如功能仿真或模型检查
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/33
申请日 : 20220224
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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