复位电路验证方法、装置、电子设备及介质
公开
摘要
本公开提供了一种复位电路验证方法、装置、电子设备及介质，涉及计算机技术领域，尤其涉及芯片领域。实现方案为：利用复位电路执行验证用例，以得到多个复位源中的每一个复位源的第一复位计数值和多个功能模块中的每一个功能模块的第二复位计数值，其中，每一个复位源的第一复位计数值为在执行验证用例的过程中在该复位源检测到的复位指令的数量，每一个功能模块的第二复位计数值为在执行验证用例的过程中在该功能模块检测到的复位指令的数量；以及针对多个功能模块中的每一个功能模块，至少基于该功能模块的第二复位计数值和该功能模块所对应的至少一个复位源中的每一个复位源的第一复位计数值，确定对复位电路的验证结果。
基本信息
专利标题 ：
复位电路验证方法、装置、电子设备及介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114297964A
申请号 ：
CN202111642589.1
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张志文
申请人 ：
昆仑芯（北京）科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区上地十街10号百度大厦
代理机构 ：
北京市汉坤律师事务所
代理人 ：
姜浩然
优先权 ：
CN202111642589.1
主分类号 ：
G06F30/33
IPC分类号 ：
G06F30/33 G06F115/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/33
设计验证，例如功能仿真或模型检查
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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