一种面板缺陷检测模型的生成方法、检测方法及终端设备
公开
摘要
本申请公开了一种面板缺陷检测模型的生成方法、检测方法及终端设备，所述面板缺陷检测模型的生成方法包括获取面板图像集；基于所述面板图像集对第一预设网络模型进行训练，以得到检测模型；基于所述面板图像集对第二预设网络模型进行训练，以得到分类模型；基于所述检测模型和所述分类模型，确定所述面板缺陷检测模型。本申请中的面板缺陷检测模型是由检测模型和分类模型级联构成，并基于面板图像集分别对检测模型和分类模型进行训练，提高了检测模型以及分类模型的检测精度，从而提高了面板缺陷检测模型的识别效果，进而提高了面板质量。
基本信息
专利标题 ：
一种面板缺陷检测模型的生成方法、检测方法及终端设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114627039A
申请号 ：
CN202011444373.X
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈炜炜
申请人 ：
TCL科技集团股份有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市仲恺高新区惠风三路17号TCL科技大厦
代理机构 ：
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
温宏梅
优先权 ：
CN202011444373.X
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/62 G06T7/73 G06N3/04 G06N3/08 G01N21/88 G01N21/95
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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