一种太阳能硅片的检测系统及其检测方法
公开
摘要
本发明公开了一种太阳能硅片的检测系统及其检测方法，包括上位机、定位装置及检测装置，所述上位机与所述定位装置通信连接，所述上位机与所述检测装置连通信接，所述检测装置位于所述定位装置的中心，本发明通过所述定位装置对待测太阳能硅片进行定位校准，同时，所述检测装置对待测太阳能硅片进行破损检测，这样既提高了定位精度，又具有破损检测功能，提高了检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种太阳能硅片的检测系统及其检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609137A
申请号 ：
CN202011448377.5
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-12-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
凌步军朱鹏程袁明峰赵有伟冯高俊滕宇吕金鹏冷志斌
申请人 ：
江苏亚威艾欧斯激光科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区12幢401-73
代理机构 ：
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
朱艳
优先权 ：
CN202011448377.5
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/93 G01N21/95 G01N21/84 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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