本实用新型公开一种便于调节的半导体测试装置，其包括机体，所述机体上方左右两侧对称设有起偏器和检偏器，所述机体下方设有支撑柱，所述机体上端面设有固定底座；调节组件，所述调节组件包括气缸、支撑板和多根连接杆，所述气缸底部嵌入固定底座内，所述气缸上端与支撑板连接，多根所述连接杆对称设于支撑板上端面；样品测试台，所述样品测试台设于多根连接杆上端，且设于所述起偏器和检偏器之间。本实用新型可以对样品测试台进行高度调节，还可以根据待测试半导体所需要测试的位置或角度，对样品测试台进行各个角度的调节，相比对起偏器与检偏器的位置进行调节，本实用新型的操作更为方便，且调节精确度高，测试效率和测试结果均得到保证。