本实用新型公开了一种便于调节的半导体测试用治具，包括底座、限位杆和顶板，所述底座上表面两端均固定安装有限位杆，所述限位杆底部固定连接有顶板，所述底座上表面中部固定开设有一号凹槽，所述一号凹槽内腔通过螺栓可拆卸安装有下模具，所述限位杆中部活动套装有升降板，所述升降板表面中部固定开设有检测槽，且检测槽相互配合，所述检测槽内壁固定粘贴有橡胶垫，所述顶板下表面两端均固定安装有电动伸缩杆。本实用新型在使用过程中可对半导体的固定压力进行控制，既避免压力过大将半导体压坏，同时也防止压力过小造成接触良，将有效提升对半导体的检测效果，且对半导体进行检测时，提升对半导体的散热效果。