一种便于调节的半导体测试用治具
授权
摘要

本实用新型公开了一种便于调节的半导体测试用治具,包括底座、限位杆和顶板,所述底座上表面两端均固定安装有限位杆,所述限位杆底部固定连接有顶板,所述底座上表面中部固定开设有一号凹槽,所述一号凹槽内腔通过螺栓可拆卸安装有下模具,所述限位杆中部活动套装有升降板,所述升降板表面中部固定开设有检测槽,且检测槽相互配合,所述检测槽内壁固定粘贴有橡胶垫,所述顶板下表面两端均固定安装有电动伸缩杆。本实用新型在使用过程中可对半导体的固定压力进行控制,既避免压力过大将半导体压坏,同时也防止压力过小造成接触良,将有效提升对半导体的检测效果,且对半导体进行检测时,提升对半导体的散热效果。

基本信息
专利标题 :
一种便于调节的半导体测试用治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022117367.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-24
授权号 :
CN213875918U
授权日 :
2021-08-03
发明人 :
王睿
申请人 :
广州嘉逸电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省广州市天河区大观中路横岗头5号自编C栋四楼西
代理机构 :
北京艾皮专利代理有限公司
代理人 :
杨克
优先权 :
CN202022117367.5
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  H05K7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-08-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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