一种新型半导体测试治具
授权
摘要
本实用新型属于半导体测试技术领域，尤其为一种新型半导体测试治具，包括置物箱、电机和横杆，所述置物箱的内部安装有储物箱，且储物箱的外侧固定有固定块，并且储物箱的顶部设置有支撑板，所述支撑板的上方连接有夹板，且夹板的底部固定有限位杆，所述限位杆的外侧嵌套有第一弹簧，且第一弹簧的端头处连接有限制块，所述电机设置于置物箱的中间位置，且电机的底部安装有第一齿轮，并且第一齿轮的外侧连接有第二齿轮，所述第二齿轮的中间位置固定有连接轴，且连接轴的底部设置有推板。该新型半导体测试治具，装置在使用的过程中，便于对待检测半导体进行固定，并且便于对测试单元进行调节，降低了装置的使用难度。
基本信息
专利标题 ：
一种新型半导体测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922407056.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-27
授权号 ：
CN211478538U
授权日 ：
2020-09-11
发明人 ：
刘杰
申请人 ：
深圳市恩希电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福海街道和平社区重庆路新福工业园101
代理机构 ：
北京久维律师事务所
代理人 ：
邢江峰
优先权 ：
CN201922407056.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-09-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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