本实用新型公开了一种便于使用的半导体测试治具，属于测试治具设备技术领域，包括测试托盘，所述测试托盘表面开设有凹槽，所述凹槽内腔安装有电动吸盘，所述测试托盘内腔设有挡板，所述挡板右侧壁中部安装有限位杆，所述测试托盘顶部表面右侧转动连接有锁紧螺栓，所述测试托盘右侧壁顶部一侧镶嵌连接有限位管，所述限位管内腔插接有引导柱，所述测试托盘底部表面四角均安装有支撑机构。本实用新型通过电动吸盘，可对半导体初步固定，并且通过转动锁紧螺栓，可对限位杆锁紧固定，从而能够使得挡板对半导体夹持，提高了半导体后期测试的安全，通过支撑机构，既能起到一定的减震缓冲功能，又能防止测试托盘滑动，提高了半导体测试安全。