一种夹持稳定的半导体测试用治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种夹持稳定的半导体测试用治具,包括底座,所述底座上表面对称活动连接有卡块,所述卡块表面开设有卡槽,所述壳体内侧焊接有导向杆,所述导向杆外壁对称安装有第一滑块,所述第一滑块一侧套接有硬质弹簧,所述壳体上表面边缘处对称焊接有侧板,所述侧板表面转动连接有丝杆,所述丝杆与侧板表面衔接处安装有锁紧螺母,所述壳体两侧均安装有直线滑台,所述直线滑台上方安装有离子风机。本实用新型通过卡块配合硬质弹簧对半导体进行卡持定位,并通过转动丝杆使其末端与半导体外壁相接触,不仅结构简单,方便操作,而且提升了半导体夹持时的稳定性。
基本信息
专利标题 :
一种夹持稳定的半导体测试用治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022147330.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-27
授权号 :
CN214041638U
授权日 :
2021-08-24
发明人 :
王睿
申请人 :
西安和光明宸科技有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区丈八街办瞪羚路26号西安理工大学科技园E座312-04
代理机构 :
西安弘理专利事务所
代理人 :
涂秀清
优先权 :
CN202022147330.7
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26 G01R1/04 H05F3/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-08-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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