一种温度传感器批量测试治具
授权
摘要

本实用新型涉及一种温度传感器批量测试治具,包括第一固定件、第二固定件、固定条和测试条,所述第一固定件上设有定位爪,所述固定条的两端放置在定位爪上,所述固定条上阵列设有多个固定槽,所述固定槽用于固定温度传感器的一根信号线,所述固定条为导电金属,并与测试设备电连接,所述测试条可旋转地设置在第二固定件上,所述测试条为绝缘件,背面设有条形磁铁,测试条上阵列设有多个金属测试片,所述金属测试片用于与吸附过来的温度传感器的信号线电连接。固定条长度较长,可以一次排列几十根温度传感器,省去了用线夹夹紧信号线这一步骤,取放效率大大增加,所述测试治具一次可以批量完成几十个温度传感器的测试任务,工作效率非常高。

基本信息
专利标题 :
一种温度传感器批量测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020049410.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-10
授权号 :
CN211477456U
授权日 :
2020-09-11
发明人 :
李凯
申请人 :
深圳市惠拓电子材料有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区松岗街道楼岗大道蓝天科技园A1A2A5栋(A5栋5楼C1)
代理机构 :
深圳市深软翰琪知识产权代理有限公司
代理人 :
吴雅丽
优先权 :
CN202020049410.6
主分类号 :
G01K15/00
IPC分类号 :
G01K15/00  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01K
温度测量;热量测量;未列入其他类目的热敏元件
G01K15/00
温度计的测试或校准
法律状态
2020-09-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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