用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置
授权
摘要
本实用新型提供一种用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置，包括测试底座和固定在测试底座上的测试支架，测试支架的上端安装有一用于放置待测芯片的测试夹具和一环绕于测试夹具设置的线圈基座；测试夹具与两排金手指电连接，线圈基座可旋转，其上设有一组彼此平行的双线圈，线圈基座和测试支架之间设有一个固定于线圈基座底部的齿轮，齿轮通过皮带与磁性开关连接。本实用新型的用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置采用一组可旋转线圈通过旋转的方式，以在2D平面霍尔芯片量产测试时，通过一次机械手的送料，可以同时完成X轴和Y轴两个轴向的磁通量测试，并避免芯片无法运送到测试夹具的问题，而不需要重新上分选机再测一次，提高了测试效率。
基本信息
专利标题 ：
用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020051348.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-10
授权号 ：
CN211756978U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
上海灿瑞科技股份有限公司;浙江恒拓电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市静安区延长路149号科技楼308室
代理机构 ：
上海智信专利代理有限公司
代理人 ：
邓琪
优先权 ：
CN202020051348.4
主分类号 ：
B07C5/34
IPC分类号 ：
B07C5/34 B07C5/02 G01R33/02
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
B07C5/34
根据其他特殊性质来分选
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
