本实用新型属于磁通量测试设备技术领域，尤其为一种霍尔芯片磁通量测试装置，针对现有的霍尔芯片磁通量测试装置难以将芯片间歇性运入和运出测试工位、导致测试效率较低且测试精确度较差的问题，现提出如下方案，其包括底座和测试组件，测试组件固定安装在底座顶部一侧，所述底座顶部开设有圆形槽和两个方形槽，圆形槽内转动安装有圆盘，圆盘顶部固定连接有竖轴的一端，竖轴顶端固定安装有转盘，转盘顶部开设有多个通孔，多个通孔一侧内壁上均固定连接有压紧弹簧的一端。本实用新型结构设计合理，便于将霍尔芯片间歇性运入和运出测试设备且每次运输的距离相等，从而提高测试效率的同时保证测试精度。