微型化微波探测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一微型化微波探测装置，其中所述微型化微波探测装置包括一参考地基板和一辐射源基板，其中所述参考地基板包括一第一基板和被覆盖于所述第一基板的一金属层，其中所述金属层形成一参考地，其中所述辐射源基板包括一第二基板和分别被保持于所述第二基板的相对侧的一第一覆铜层和一第二覆铜层，其中所述第一覆铜层形成一辐射源，所述辐射源具有一馈电点，其中所述辐射源基板被设置于所述参考地基板的所述金属层，并在所述金属层和所述第一覆铜层之间形成一辐射缝隙，其中所述参考地基板的宽度尺寸与所述辐射源基板的宽度尺寸保持一致，以使得所述微型化微波探测装置小型化。
基本信息
专利标题 ：
微型化微波探测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020066304.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-10
授权号 ：
CN211238503U
授权日 ：
2020-08-11
发明人 ：
邹高迪邹明志
申请人 ：
深圳迈睿智能科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区燕罗街道罗田社区象山大道380号3栋2、3楼
代理机构 ：
宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李高峰
优先权 ：
CN202020066304.9
主分类号 ：
H01Q1/38
IPC分类号 ：
H01Q1/38 H01Q1/48 H01Q1/50 H01Q13/10 G01S7/36 G01S7/41 G01S13/88
法律状态
2020-08-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
