一种瞬态电压抑制二极体测试装置
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摘要

本实用新型公开了一种瞬态电压抑制二极体测试装置,包括测试箱体和若干PTC发热体,测试箱体的侧壁铰接有门板,测试箱体的侧部安装有数字温度计,测试箱体的两侧内壁中心部位均安装有承载块,两组承载块相对的侧壁均安装有弹性导电片,两组弹性导电片之间构成卡接空腔,两组弹性导电片的侧部均安装有线缆,两组线缆均贯穿承载块和测试箱体的侧壁外延至测试箱体的外侧,若干PTC发热体均安装于测试箱体的两侧壁下部,若干PTC发热体的发热端均插入测试箱体的内部。本实用新型通过PTC发热体对测试箱体的内部进行加热,便于在检测的过程中调整测试箱体的内部温度,模拟二极体工作时的温度,在相应温度下进行测试,达到良好的测试效果。

基本信息
专利标题 :
一种瞬态电压抑制二极体测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020070019.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-14
授权号 :
CN211785915U
授权日 :
2020-10-27
发明人 :
祝连国
申请人 :
苏州联飞国耀电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区滨河路588号1层A区65号
代理机构 :
北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
赵瑞鹏
优先权 :
CN202020070019.4
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  H05B3/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-10-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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