瞬变电压抑制器封装测试装置

授权

摘要

本实用新型提供一种瞬变电压抑制器封装测试装置，包括基座，基座内部前后方向上设有2个滑轨，滑轨上滑动连接有2个电动滑块，电动滑块顶端设有导电杆，基座顶部设有2个条形孔，导电杆顶部穿过条形孔伸向基座上方，基座顶端设有放置台，放置台位于2个条形孔之间，基座内部底端设有电性相连的测试装置与控制电脑，测试装置通过电线与导电杆相连，本实用新型通过2个导电杆将瞬变电压抑制器引脚夹住，此时瞬变电压抑制器、导电杆、测试装置形成闭合电路，测试装置完成对瞬变电压抑制器性能检测，并通过控制电脑将检测结果通过显示灯显示出来，在不影响瞬变电压抑制器外观与性能的同时提高了检测效率。

基本信息

专利标题：

瞬变电压抑制器封装测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920545147.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-22

授权号：

CN210129483U

授权日：

2020-03-06

发明人：

高建明侯立磊王秀庭潘淑松历余良

申请人：

南京创锐半导体有限公司

申请人地址：

江苏省南京市江北新区葛塘街道中鑫路692号

代理机构：

南京正联知识产权代理有限公司

代理人：

郭俊玲

优先权：

CN201920545147.7

主分类号：

H01L21/66

IPC分类号：

H01L21/66