GGNMOS器件、多指GGNMOS器件及保护电路
授权
摘要

本实用新型公开一种GGNMOS器件,包括:衬底;形成于衬底中的源极和漏极;形成于衬底上的栅极;其中,源极包括第一源极和第二源极;漏极位于第一源极与第二源极之间;栅极包括第一栅极和第二栅极;第一栅极在衬底上的正投影围绕漏极在衬底上的正投影,第二栅极在衬底上的正投影围绕第一栅极在衬底上的正投影。本实用新型提供的GGNMOS器件,能够有效抑制常规双边结构的NMOS器件的辐射感生边缘寄生晶体管漏电效应,同时能够降低NMOS器件对单粒子闩锁效应的敏感性,因此能够很好地适应辐射环境并具有良好的抗静电能力。本实用新型还提供一种多指GGNMOS器件以及ESD保护电路。

基本信息
专利标题 :
GGNMOS器件、多指GGNMOS器件及保护电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020091176.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-15
授权号 :
CN211350664U
授权日 :
2020-08-25
发明人 :
陈萧静张薇储小玲朱恒宇
申请人 :
北京锐达芯集成电路设计有限责任公司
申请人地址 :
北京市大兴区经济技术开发区科创十四街99号33幢D栋二层2192号
代理机构 :
北京正理专利代理有限公司
代理人 :
张雪梅
优先权 :
CN202020091176.3
主分类号 :
H01L29/78
IPC分类号 :
H01L29/78  H01L27/02  
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法律状态
2020-08-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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