本实用新型公开了一种硅片用测试平台，包括底座和底板，所述底座的上方连接有横板，且横板的左端内部贯穿连接有第一控制杆，且横板的右端内部贯穿连接有第二控制杆，所述第一控制杆和第二控制杆的外侧均连接有皮带，所述底板位于横板的上方，且底板的左端内部开设有限位槽，所述底板的上方安装有盛放板，所述盛放板的上表面焊接连接有固定座，所述竖杆与控制件相连接，且控制件的下端连接有固定板，所述横板在底座上为滑动结构，且横板在底座上为伸缩结构，并且横板的宽度和长度尺寸分别与底座的内侧宽度和长度尺寸相等。该硅片用测试平台，硅片定位简单，且便于调节平台与测试头之间的间距尺寸，并且便于保证硅片位置的稳定。