一种光响应器件的测试装置及系统
授权
摘要
本实用新型涉及光响应器件的测试技术领域，具体公开了一种光响应器件的测试装置，其中，包括：瞬态光源装置、准直光路和测试平台，所述准直光路设置在所述瞬态光源装置和所述测试平台之间；所述瞬态光源装置用于发出能够激发待测试光响应器件的瞬态光源；所述准直光路能够将所述瞬态光源装置发出的瞬态光源的光斑能量均匀化；所述测试平台能够对所述准直光路的出射的瞬态光进行校正，根据校正后的瞬态光对待测试光响应器件进行测试得到测试信号，并将所述测试信号发送至上位机。本实用新型还公开了一种光响应器件的测试装置及系统。本实用新型提供的光响应器件的测试装置具有成本低且易于使用的优势。
基本信息
专利标题 ：
一种光响应器件的测试装置及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020267811.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-06
授权号 ：
CN211928061U
授权日 ：
2020-11-13
发明人 ：
刘桂林邵剑波席曦周欢萍陈棋于海民王怡淼
申请人 ：
江南大学
申请人地址 ：
江苏省无锡市滨湖区蠡湖大道1800号
代理机构 ：
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
殷红梅
优先权 ：
CN202020267811.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01M11/00 H02S50/15
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-11-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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