红外光探测头
授权
摘要
本实用新型提供一种红外光探测头，其包括：探测头外壳、红外滤光片、广角短焦透镜组以及光敏单元；探测头外壳一端设置有用于红外光入射的探测窗口，探测窗口与探测头外壳内部保持连通，红外滤光片、广角短焦透镜组以及光敏单元沿红外光的入射方向依次设置于探测头外壳的内部；广角短焦透镜组包括沿红外光的入射方向依次设置的第一透镜和第二透镜，光敏单元包括：基板、光敏面贴片以及焊盘，光敏面贴片位于基板的一面，焊盘与光敏面贴片相连接。本实用新型的红外光探测头利用广角、短焦距的光学透镜组，将自由空间的大尺寸光斑，缩小光学成像尺寸，并通过小光敏面的光敏单元接收。且通过缩小光敏面的尺寸，避免了光的散射，有利于提高探测精度。
基本信息
专利标题 ：
红外光探测头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020375442.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-23
授权号 ：
CN211553063U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
冯振阳洪小刚王洁田桂霞朱宇陈奔
申请人 ：
亨通洛克利科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴江区松陵镇亨通路88号12号楼
代理机构 ：
苏州国诚专利代理有限公司
代理人 ：
杨淑霞
优先权 ：
CN202020375442.5
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J11/00 G02B5/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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