一种透射光相位信息表征装置

授权

摘要

本专利公开了一种透射光相位信息表征装置，该装置由两部分组成光路1与光路2，包括：光源、起偏器、第一1/4波片、第一偏振分束器、第一样品台、第二偏振分束器、第一反射镜、第二样品台、第二反射镜、第二1/4波片、检偏器、探测器。光束经过第一偏振分束器后分为光路1与光路2，汇聚于第二偏振分束器。本装置可以同时测量样品透射光的强度和相位信息，即可获取透射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。

基本信息

专利标题：

一种透射光相位信息表征装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020747427.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-09

授权号：

CN212275567U

授权日：

2021-01-01

发明人：

郝加明李晓温俞伟伟文政绩周子骥刘锋

申请人：

中国科学院上海技术物理研究所

申请人地址：

上海市虹口区玉田路500号

代理机构：

上海沪慧律师事务所

代理人：

郭英

优先权：

CN202020747427.9

主分类号：

G01N21/25

IPC分类号：

G01N21/25 G01J9/00 G01J3/447 G01J3/02