一种透射光相位信息表征装置
授权
摘要
本专利公开了一种透射光相位信息表征装置,该装置由两部分组成光路1与光路2,包括:光源、起偏器、第一1/4波片、第一偏振分束器、第一样品台、第二偏振分束器、第一反射镜、第二样品台、第二反射镜、第二1/4波片、检偏器、探测器。光束经过第一偏振分束器后分为光路1与光路2,汇聚于第二偏振分束器。本装置可以同时测量样品透射光的强度和相位信息,即可获取透射光谱的全方面信息,为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
基本信息
专利标题 :
一种透射光相位信息表征装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020747427.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-09
授权号 :
CN212275567U
授权日 :
2021-01-01
发明人 :
郝加明李晓温俞伟伟文政绩周子骥刘锋
申请人 :
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 :
上海市虹口区玉田路500号
代理机构 :
上海沪慧律师事务所
代理人 :
郭英
优先权 :
CN202020747427.9
主分类号 :
G01N21/25
IPC分类号 :
G01N21/25 G01J9/00 G01J3/447 G01J3/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
法律状态
2021-01-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN212275567U.PDF
PDF下载