一种正入射式反射光相位信息表征光路系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种正入射式反射光相位信息表征光路系统，光路系统由光路a与光路b两部分光路组成，包括激光器、起偏器、偏振分束器、第一1/4波片、第一样品台、第二1/4波片、第二样品台、第三1/4波片、检偏器、衰减器、探测器。光束经过偏振分束器后分为光路a与光路b，分别经过1/4波片与样品平台后反射，之后两束光从新汇聚于偏振分束器。本光路系统可同时测量样品反射光的强度信息和相位信息，即可获取反射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
基本信息
专利标题 ：
一种正入射式反射光相位信息表征光路系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021233907.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-30
授权号 ：
CN212622220U
授权日 ：
2021-02-26
发明人 ：
刘锋李晓温徐笛瑞俞伟伟许昊郝加明
申请人 ：
上海师范大学
申请人地址 ：
上海市徐汇区桂林路100号
代理机构 ：
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
顾艳哲
优先权 ：
CN202021233907.X
主分类号 ：
G01N21/55
IPC分类号 ：
G01N21/55 G01N21/31 G01J1/42 G01J9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
法律状态
2021-02-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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