一种便于更换测试角度的探针卡测定装置及关键结构
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摘要

本实用新型公开了一种便于更换测试角度的探针卡测定装置及关键结构,所述探针卡测定装置包括支撑底脚、固定底板、夹紧固定结构和测定结构;所述夹紧固定结构包括限位圆板、圆板连接杆、圆形转动块、圆形连接杆、固定壳、滑块、夹紧动板、夹紧定板和螺杆旋钮;所述测定结构包括连接滑块、滑动杆、第一滑动套、转动节、电子显微镜、第二滑动套和滑套连接杆。通过夹紧固定结构和测定结构之间相互配合,不仅可以对探针卡进行检测,而且可以调整探针卡的测定角度,夹紧固定结构可以对不同长度和尺寸的探针卡进行夹紧固定,使用范围更加广泛,本装置的测定结构使用方便,高度和角度调整灵活,同时测定结构中的电子显微镜拆卸简单,适合推广使用。

基本信息
专利标题 :
一种便于更换测试角度的探针卡测定装置及关键结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020769495.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-12
授权号 :
CN212031334U
授权日 :
2020-11-27
发明人 :
赵梁玉王艾琳周明
申请人 :
强一半导体(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区东长路18号39幢2楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020769495.5
主分类号 :
G01N23/00
IPC分类号 :
G01N23/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2020-11-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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