一种光学位移测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种光学位移测量装置，包括底座，底座的顶端设置有立柱，立柱的顶端开设有敞口腔，敞口腔的内侧设置升降轴，升降轴内套设有丝杆，丝杆的底端且位于敞口腔的底部设置有轴承，丝杆的顶端设置有转盘，转盘的顶端设置有指针；立柱的顶端设置端盖，且丝杆贯穿端盖并延伸至端盖的外侧，升降轴的圆周外侧且设置有置支撑块，且支撑块穿过敞口腔的开口，支撑块的顶端设置有旋钮，支撑块侧侧面开设有矩形通孔，矩形通孔内设置有滑尺，滑尺的顶端端面设置有刻度线。有益效果：结构设计合理，方便该测量装置的安装，同时可以实现纵向与横向两个方向上的调节，进而方便该测量装置测量待检测的物品，提高了检测的精度。
基本信息
专利标题 ：
一种光学位移测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020774432.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-12
授权号 ：
CN211904047U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
陈贤明
申请人 ：
罗定市英格半导体科技有限公司
申请人地址 ：
广东省云浮市罗定市双东街道沿江五路39号C栋
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020774432.9
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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