电磁发热盘老化测试机的双层结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种电磁发热盘老化测试机的双层结构，包括架体、吊笼、上层放置架、下层放置架和升降装置，吊笼设于架体上，升降装置固定在架体上，升降装置的一端与吊笼连接，上层放置架和下层放置架均设于吊笼内，并沿着吊笼上下分布。通过设有吊笼，可以使得吊笼在升降装置的作用下，能够上下移动；从而当上层放置架上放置待检测的电磁发热盘以后，吊笼向上移动，便于下层放置架上升至相应位置，方便在下层放置架上放置另一待检测的电磁发热盘。设有升降装置，方便控制吊笼的上下移动，从而方便上下两层放置架上电磁发热盘的取放，实现在架体上同时对两个电磁发热盘进行检测，提高检测效率，节省整体占用的空间，降低整体的生产成本。
基本信息
专利标题 ：
电磁发热盘老化测试机的双层结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020793927.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-13
授权号 ：
CN212207551U
授权日 ：
2020-12-22
发明人 ：
张竣雄郑勇军何裕确郑从伟
申请人 ：
佛山市顺德区铭都昊自动化设备有限公司
申请人地址 ：
广东省佛山市顺德区勒流街道办事处江村村委会江村工业大道西六路3号A区
代理机构 ：
佛山市原创智慧知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
廖紫兰
优先权 ：
CN202020793927.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01N25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-12-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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