一种半导体生产抽样检测抓取机构

授权

摘要

本实用新型公开了一种半导体生产抽样检测抓取机构，涉及半导体生产检测技术领域，包括与机械臂相连接的基板，且基板上开设有与外界抽真空装置相连接的抽真空口，基板上还开设有吸附孔，且抽真空口与吸附孔之间通过开设在基板内的通道相连通，吸附孔内固定有连接管，且连接管的底部安装有吸盘，吸盘的竖截面呈梯形且为橡胶材质制成，连接管上设置有调节组件，且调节组件以转动的方式调节吸盘与半导体之间的接触面积；本实用新型调节组件以转动的方式，使得固定环能够沿吸盘的表面进行移动，由于固定环的内径不变，这样，就使得固定环可以迫使吸盘的底端开口进行大小改变，以实现对不同大小的半导体进行吸附，操作简单，便于调节。

基本信息

专利标题：

一种半导体生产抽样检测抓取机构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020887719.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-25

授权号：

CN212221673U

授权日：

2020-12-25

发明人：

彭勇

申请人：

合肥市华达半导体有限公司

申请人地址：

安徽省合肥市高新区望江西路860号合芜蚌实验区科技创新公共服务和应用技术研发中心B栋六楼

代理机构：

合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

刘跃

优先权：

CN202020887719.2

主分类号：

B65G47/91

IPC分类号：

B65G47/91