一种半导体发光二极管检测设备
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摘要

本实用新型公开了一种半导体发光二极管检测设备,包括底座,还包括:整流器,所述整流器可拆卸设置于底座的顶部;机架,所述机架可拆卸设置于底座的顶部,且整流器处于机架内侧;检测机构,所述检测机构可拆卸设置于机架的顶部。所述检测机构包括:外壳,所述外壳可拆卸设置于机架的顶部,且外壳的内壁沿周向均开设有滑道;制动组件,所述制动组件可拆卸设置于外壳的左侧壁顶部;螺杆,所述螺杆的两端通过轴承分别转动连接于外壳的左右内壁中心位置。该半导体发光二极管检测设备,对视力要求不高,也不用手握电笔,避免工作人员过度劳累,便于发光二极管与电源连接,提高检测效率,大大的满足了发光二极管的检测需求。

基本信息
专利标题 :
一种半导体发光二极管检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021104460.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-16
授权号 :
CN213364951U
授权日 :
2021-06-04
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
苏州奥肯思电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区木渎镇木胥西路111号2幢
代理机构 :
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王晓蕾
优先权 :
CN202021104460.6
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-06-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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