试验装置
授权
摘要

本申请提供一种试验装置。上述的试验装置包括加压升温机构、第一承载盘、第二承载盘、容器、盖板以及透气隔板,第一承载盘设于加压升温机构上,加压升温机构用于对第一承载盘进行加热和加压,第一承载盘开设有第一容纳槽,第一容纳槽用于容纳水;第二承载盘设于加压升温机构上,加压升温机构还用于对第二承载盘进行加热和加压。通过加压升温机构对第二承载盘进行加热和加压,使第二承载盘内的的腐蚀溶液蒸发至容器内,进而使印刷电路板或电子产品处于潮湿和酸性的密闭空间内,通过加压和升温的方式来模拟相应天数的测试结果,观察酸和湿对印刷电路板或电子产品的表面影响,缩短了试验装置的模拟试验的周期。

基本信息
专利标题 :
试验装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021250578.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-30
授权号 :
CN213240405U
授权日 :
2021-05-18
发明人 :
许校彬陈金星邓家响
申请人 :
惠州市特创电子科技股份有限公司;淮安特创科技有限公司
申请人地址 :
广东省惠州市惠东县白花镇太阳坳金排山
代理机构 :
广州京诺知识产权代理有限公司
代理人 :
肖金艳
优先权 :
CN202021250578.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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