测试面板结构
授权
摘要
本实用新型提供一种测试面板结构，所述测试面板具有测试电路，其特征在于，所述测试面板结构还包括接入所述测试电路的控制开关和与所述控制开关连接的至少一个测试电阻，所述的至少一个测试电阻连接于所述控制开关对应的引脚，所述控制开关控制与其连接的一个测试电阻与所述测试电路连接本实用新型的测试面板结构通过控制开关控制一个测试面板接入到测试电路中，能够实现控制开关及测试电阻的统一装配，有效的提高生产效率设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。
基本信息
专利标题 ：
测试面板结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021281104.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-02
授权号 ：
CN212905257U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
刘通何欢夏淞邓勇泉
申请人 ：
上海泰睿思微电子有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区芦潮港路1758号1幢18641室
代理机构 ：
上海唯源专利代理有限公司
代理人 ：
汪家瀚
优先权 ：
CN202021281104.1
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R31/28 G01R1/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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