BGA基板测试架
授权
摘要
本实用新型提供一种BGA基板测试架，包括主机体、设置于所述主机体上部的支撑板、架设于所述支撑板上的气泵机构以及设置于所述主机体内部的控制器、电源组件以及真空发生器；在所述主机体上部设置有用于承载和放置待检测BGA基板的检测载板，且在所述检测载板底部设置有检测板；所述检测板中密集布置有多个检测针头，且在所述检测载板上对应开设有用于露出所述检测针头的检测孔；所述气泵机构包括气泵体以及与所述气泵体的输出轴相连接的压板；所述压板与所述检测载板的位置对应、形状匹配；实际应用过程中，将待测BGA基板放置于所述检测载板上后，通过按压控制按钮，控制气泵机构运行，气泵体驱动压板下移，对待测BGA基板形成挤压，并实现电性导通。
基本信息
专利标题 ：
BGA基板测试架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021352479.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-10
授权号 ：
CN212364509U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
谢正军刘毓青
申请人 ：
深圳金霸城电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道共乐社区铁仔路新宝基工业园1栋1层C区
代理机构 ：
深圳正和天下专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨波
优先权 ：
CN202021352479.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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