一种基板测试系统及测试方法
公开
摘要
本发明公开了一种基板测试系统，包括测试检测系统，所述测试检测系统包括工作平台，所述工作平台的输出端电连接有探测针，所述探测针的输出端电连接有收据收集模块，所述收据收集模块的输出端电连接有处理器，所述处理器的输入端双向电连接有对比模块。本发明通过设置测试检测系统，可以对基板进行全面检测，从而达到了可以对原料进行全面检测的效果，解决了基板测试系统无法同时对原料进行全面检测的问题，该基板测试系统及测试方法，具备可以对原料进行全面检测的优点，使用者在使用时不需要通过不同的基板测试系统对基板进行各种检测，从而节省了大量的时间，提高了基板的生产效率。
基本信息
专利标题 ：
一种基板测试系统及测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609506A
申请号 ：
CN202210150632.0
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-02-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李宽广
申请人 ：
珠海泓瑞鑫电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市横琴新区宝华路6号105室-18669
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210150632.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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