PDP基板介质层特性测试装置

专利权的终止

摘要

一种PDP基板介质层特性测试装置，属于一种平板电视检测技术，包括盖板(1)、承片台(3)和耐压测试仪(6)，盖板(1)的一边和承片台(3)的一边相铰接，其特征是所述的盖板(1)上设有大面积导电薄膜(2)和电极引出条(201，202，203，204，205)，在承片台(3)上设有软玻璃密封条(5)，该软玻璃密封条(5)的周边与PDP基板的周边相匹配，在承片台(3)中安装有无油真空泵(4)，无油真空泵(4)的吸气口承片台(3)上的抽气口(7)相通，耐压测试仪(6)的检测电极与盖板(1)上对应的电极引出条(201，202，203，204，205)相连。本实用新型解决了生产急需，具有结构简单，操作方便，测试准确可靠的优点。

基本信息

专利标题：

PDP基板介质层特性测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720041691.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-11-30

授权号：

CN201130167Y

授权日：

2008-10-08

发明人：

吉志坚李青张雄朱立锋王保平林青园

申请人：

南京华显高科有限公司

申请人地址：

210061江苏省南京市高新开发区商务办公楼413室

代理机构：

南京天华专利代理有限责任公司

代理人：

夏平

优先权：

CN200720041691.5

主分类号：

G01N27/92

IPC分类号：

G01N27/92 G01R31/12