一种基板层偏对位测试条
授权
摘要
本实用新型公开了一种基板层偏对位测试条，属于基板检测技术领域。其包括起始线、超规格判定线、终止线、若干个基板层偏对位测试单元，所述起始线、终止线均与超规格判定线平行设置，所述基板层偏对位测试单元数个在X方向排成一列整齐设置在起始线与终止线之间，且等宽等间距分布，所述基板层偏对位测试单元头部设置基板层偏对位判定标志，所述基板层偏对位判定标志与终止线对齐，且止于所述终止线之内，所述起始线与超规格判定线间距限定超规格判定线长度C，其Y方向的长度沿X方向呈等差递减设置。本实用新型可用肉眼直接判定偏移情况，且确定偏移量，效率快。
基本信息
专利标题 ：
一种基板层偏对位测试条
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920689840.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-15
授权号 ：
CN210222194U
授权日 ：
2020-03-31
发明人 ：
伍永友李铢元包旭升
申请人 ：
星科金朋半导体（江阴）有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市江阴高新技术产业开发区长山路78号
代理机构 ：
南京经纬专利商标代理有限公司
代理人 ：
赵华
优先权 ：
CN201920689840.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01B21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-03-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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