一种缺陷定位装置和缺陷定位系统
授权
摘要
本实用新型提供一种缺陷定位装置和缺陷定位系统。缺陷定位装置包括：夹具，用于固定待检测产品；定位传感器，与所述夹具固定连接，所述定位传感器用于检测所述夹具的姿态信息；控制开关，与所述定位传感器电连接，所述控制开关用于向所述定位传感器输出控制所述定位传感器记录检测到的姿态信息的控制信号。本实用新型实施例提供的缺陷定位装置用于在目视检测产品缺陷过程中对产品存在的缺陷进行标记，使用过程中，可以通过定位传感器对缺陷定位装置的姿态进行检测，进一步通过操作控制开关实现对于缺陷的记录，从而能够快捷准确的实现对于产品缺陷的定位和记录，有助于提高检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种缺陷定位装置和缺陷定位系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021372134.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-13
授权号 ：
CN212459440U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
史进李在桓
申请人 ：
西安奕斯伟硅片技术有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区锦业路1号都市之门A座1323室
代理机构 ：
北京银龙知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄灿
优先权 ：
CN202021372134.3
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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