显示面板缺陷定位方法、装置、设备及存储介质
授权
摘要
本申请公开了一种显示面板缺陷定位方法,通过缺陷图像在标准模版上的对应位置确定缺陷图像在标准模版掩膜上的对应位置,以获得缺陷图像的像素值分布,将其与标准模版中各个区域的像素值进行对比,定位缺陷所处的区域,增加了缺陷图像与标准模版的对照精度,通过像素值定位缺陷位置,避免了人为判断偏差,提高了定位精准度。
基本信息
专利标题 :
显示面板缺陷定位方法、装置、设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114266773A
申请号 :
CN202210197247.1
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2022-03-02
授权号 :
CN114266773B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
成都数联云算科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区吉泰五路88号3栋5层8号、9号
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
王志
优先权 :
CN202210197247.1
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00 G06T7/70 G06V10/25 G06V10/75 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-20 :
授权
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220302
申请日 : 20220302
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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