显示装置和检查显示装置的缺陷的方法
公开
摘要
公开了一种显示装置和检查显示装置的缺陷的方法，所述显示装置包括：基底，包括显示区域和与显示区域相邻的测试区域；下电极，在显示区域中设置在基底上；公共层，设置在下电极上；上电极，设置在公共层上；以及测试元件组。测试元件组包括：多个电极图案，与下电极设置在同一层中并且在测试区域中设置在基底上；测试公共层，与公共层设置在同一层中并且设置在多个电极图案上，其中，通过测试公共层限定多个开口以暴露多个电极图案中的每个电极图案的一部分；以及电极层，与上电极设置在同一层中，在测试公共层上并且通过开口与多个电极图案接触。
基本信息
专利标题 ：
显示装置和检查显示装置的缺陷的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114566524A
申请号 ：
CN202111384681.2
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2021-11-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
朴承铉郑胤谟
申请人 ：
三星显示有限公司
申请人地址 ：
韩国京畿道龙仁市
代理机构 ：
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 ：
王学强
优先权 ：
CN202111384681.2
主分类号 ：
H01L27/32
IPC分类号 ：
H01L27/32 H01L23/544 H01L21/66 G01N21/88 G01N27/20 G09G3/00
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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