显示基板的缺陷检查方法
公开
摘要
公开一种显示基板的缺陷检查方法。显示基板的缺陷检查方法包括如下步骤：拍摄显示基板的图像；提取所述图像的X轴分布；提取所述图像的Y轴分布；以所述X轴分布及所述Y轴分布为基础来生成线跟踪信息；以所述线跟踪信息为基础来获取所述显示基板的构成要素的边界位置；以所述边界位置为基础来将预先设定的感兴趣区域和所述图像的实际感兴趣区域进行匹配；以及检查匹配的所述实际感兴趣区域的缺陷。
基本信息
专利标题 ：
显示基板的缺陷检查方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114529500A
申请号 ：
CN202111208310.9
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2021-10-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李东勳金孝眞崔慧媛金明铁徐智勳粱炅镐
申请人 ：
三星显示有限公司
申请人地址 ：
韩国京畿道龙仁市
代理机构 ：
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 ：
姜长星
优先权 ：
CN202111208310.9
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/11 G06T7/70 G06T7/90 G06K9/62 G01N21/95 G06V10/74 G06V10/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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