显示装置的检查方法以及显示装置的检查装置
公开
摘要

提供一种显示装置的检查方法以及显示装置的检查装置。显示装置的检查方法包括:将焦点设定在包括多个层的显示装置,影像拍摄单元在照射第一光的第一照明条件下从在所述焦点处被反射的所述第一光获取多个第一影像图片,并在照射第二光的第二照明条件下从在所述焦点处被反射的所述第二光获取多个第二影像图片的步骤;从所述获取的影像图片获取发现所述显示装置的不良颗粒的不良候补的信息的步骤;以及适用针对所述不良候补的好坏判定的步骤,所述影像拍摄单元包括多个镜子以倾斜角倾斜的镜阵列以及控制所述镜子的倾斜角的系统控制部,根据所述镜子的倾斜角来设定所述焦点的位置。

基本信息
专利标题 :
显示装置的检查方法以及显示装置的检查装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509438A
申请号 :
CN202111036542.0
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2021-09-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
金宰完宋明镐金永燮申大根池熙成金锡辉
申请人 :
三星显示有限公司
申请人地址 :
韩国京畿道龙仁市
代理机构 :
北京钲霖知识产权代理有限公司
代理人 :
李英艳
优先权 :
CN202111036542.0
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/95  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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