一种高端专用ASIC芯片的检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种高端专用ASIC芯片的检测装置，包括支撑机构、移动机构、承载机构、升降机构和探测机构；支撑机构包括第一平台、第二平台和支撑杆，支撑杆位于第一平台和第二平台之间，且第一平台位于支撑杆上端，第二平台位于支撑杆下端；承载机构包括承载盘，承载盘的上表面上设有凹陷的圆形凹槽；移动机构位于承载机构和支撑机构之间，移动机构包括能横向移动承载机构的横向移动机构和能纵向移动承载机构的纵向移动机构；探测机构包括具有探针过孔的PCB板，PCB板上设置有测试探针；升降机构位于第一平台的上表面，且探测机构固定在升降机构上。本实用新型具有避免检测误差、提高检测精度、降低劳动强度、提高检测效率等有益效果。
基本信息
专利标题 ：
一种高端专用ASIC芯片的检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021538451.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-29
授权号 ：
CN212989571U
授权日 ：
2021-04-16
发明人 ：
宁建宇徐四九
申请人 ：
嘉兴威伏半导体有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市平湖市经济开发区新兴二路988号3号楼1层
代理机构 ：
浙江永航联科专利代理有限公司
代理人 ：
蒋文
优先权 ：
CN202021538451.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02 G01R1/04 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
