一种可测量粒径的地质放大镜
授权
摘要
本实用新型涉及一种可测量粒径的地质放大镜，包括标尺框、透镜框和外壳，透镜框通过转轴与外壳连接，透镜框可绕着转轴进行旋转，转轴上还连接有可绕着转轴转动的标尺框，透镜框内镶嵌有透镜，标尺框内镶嵌有标尺。本实用新型在观察沉积岩岩心时，能提供标尺，快速测量所含矿物的粒径，提高沉积岩命名的准确度，可以满足铀矿地质工作者在岩心编录等工作中的实际需求，也可满足广大地质工作者沉积剖面测量工作的实际需求，实用性强，值得大范围推广。
基本信息
专利标题 ：
一种可测量粒径的地质放大镜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021541063.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-30
授权号 ：
CN213517740U
授权日 ：
2021-06-22
发明人 ：
吴兆剑韩效忠熊涛吕立娜李杨季辉
申请人 ：
中煤地质集团有限公司
申请人地址 ：
北京市石景山区玉泉路59号3号楼
代理机构 ：
北京世誉鑫诚专利代理有限公司
代理人 ：
任欣生
优先权 ：
CN202021541063.5
主分类号 ：
G02B25/00
IPC分类号 ：
G02B25/00 G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B25/00
目镜；放大镜
法律状态
2021-06-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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