一种高精度高稳定性电子分析天平
授权
摘要
本实用新型属于电子分析天平技术领域，具体涉及一种高精度高稳定性电子分析天平，包括电子分析天平，所述电子分析天平上设有透明玻璃罩，所述透明玻璃罩侧方设有推拉门，所述推拉门包括下推拉门和上推拉门，所述下推拉门上方设有U型槽口，所述上推拉门下方设有条形凸起，所述条形凸起与U型槽口适配，所述下推拉门和上推拉门可以相对移动，所述下推拉门上设有把手一，所述上推拉门上设有把手二，所述把手一上设有活动连接机构，所述把手二上设有圆孔，所述把手一通过活动连接机构和圆孔配合与把手二活动连接，克服了现有技术的不足，在称量物体时候，可以仅打开上推拉门来添加物体，从而减小空气的影响。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度高稳定性电子分析天平
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021704762.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-17
授权号 ：
CN212721716U
授权日 ：
2021-03-16
发明人 ：
蔡学林
申请人 ：
合肥屹景生物科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市蜀山区绩溪路321号万象新天小区1幢2幢3幢1#-2013
代理机构 ：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
汤东凤
优先权 ：
CN202021704762.7
主分类号 ：
G01G21/28
IPC分类号 ：
G01G21/28 G01G23/00 G01G21/12 G01G17/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01G
称量
G01G21/00
称量仪器的零部件
G01G21/28
框架；外罩
法律状态
2021-03-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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