一种双轴可旋转的白光共焦扫描测量结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种双轴可旋转的白光共焦扫描测量结构，包括旋转座、Z轴柱、安装柄、白光安装座和白光共焦探头，旋转座可旋转的设置在Z轴柱底部，所述安装柄包含顶端和底端，所述安装柄的顶端固定连接旋转座的底部，所述安装柄的底端固定连接白光安装座，所述白光安装座上固定设置白光共焦探头。本实用新型相对与传统三坐标检测玻璃曲面的轮廓和厚度，提高了效率，剔除了二次定位误差。解决了传统三坐标无法检测软质零件和狭小缝隙零件的问题，为此类零件提供了检测方案。减小了对未知轮廓的曲面扫描的探测误差，提高了检测精度。
基本信息
专利标题 ：
一种双轴可旋转的白光共焦扫描测量结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021761304.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-21
授权号 ：
CN212963234U
授权日 ：
2021-04-13
发明人 ：
佘刚范先彪王国栋
申请人 ：
思瑞测量技术（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福永街道和平社区和泰工业区（和丰工业园）厂房6栋第一、二、四层
代理机构 ：
深圳市凯博企服专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李绍飞
优先权 ：
CN202021761304.7
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2021-04-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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