一种表面污染仪
授权
摘要
本申请涉及核监测仪器的领域,尤其是涉及一种表面污染仪,其包括处理器、显示器、第一探头及第二探头;所述第一探头为长条形探头,所述第一探头设置在处理器底部;所述第二探头为圆柱形探头,所述第二探头可拆卸连接在处理器侧面。本申请设置长条形第一探头,增加了采样探头的采样面积,在相同时间内,表面污染仪可以检测更大的区域,提高了表面污染仪的检测效率;同时设置圆柱形第二探头,第二探头可以采样侧面及角落位置,使表面污染适合更多的检测环境。
基本信息
专利标题 :
一种表面污染仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021775991.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-22
授权号 :
CN212808635U
授权日 :
2021-03-26
发明人 :
黄春年陆浩楠李亚飞徐霞泽
申请人 :
杭州卫康环保科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区江陵路88号5幢3层F区
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
俞涛
优先权 :
CN202021775991.8
主分类号 :
G01T1/167
IPC分类号 :
G01T1/167
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量,例如,污染的测量
法律状态
2021-03-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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