一种用于集成电路熔丝修调检测的电路
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于集成电路熔丝修调检测的电路，包括：第一二极管、第二二极管、熔丝和若干电阻。本实用新型提供的用于集成电路熔丝修调检测的电路，完成修调后可以将熔丝结构熔断，熔断后测试点与内部电路的连接断开，其他连接均用电阻或者二极管隔离，而且熔丝熔断前后整体阻值基本保持基本不变，从而降低对集成电路的影响。
基本信息
专利标题 ：
一种用于集成电路熔丝修调检测的电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021811806.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-26
授权号 ：
CN213210361U
授权日 ：
2021-05-14
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
苏州晶耀信息科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区东吴北路8号国裕大厦一期13层1308
代理机构 ：
南京行高知识产权代理有限公司
代理人 ：
李晓
优先权 ：
CN202021811806.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 H01L23/525
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
