一种密集测点用微小测试探针治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种密集测点用微小测试探针治具，包括：一绝缘基座；多个导电体，多个所述导电体设置在所述绝缘基座内，并且每个导电体的两端分别从绝缘基座伸出；多个探头，每个所述导电体的两端均设置有一个探头。该密集测点用微小测试探针治具，以解决现有测试探针难以适用于密集小测点的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种密集测点用微小测试探针治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021937898.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-08
授权号 ：
CN213633540U
授权日 ：
2021-07-06
发明人 ：
李红叶丁崇亮申啸张小英
申请人 ：
渭南高新区木王科技有限公司
申请人地址 ：
陕西省渭南市高新技术产业开发区东风大街与石泉路十字西北角
代理机构 ：
西安毅联专利代理有限公司
代理人 ：
王昊
优先权 ：
CN202021937898.2
主分类号 ：
G01R1/067
IPC分类号 ：
G01R1/067 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2021-07-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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