用于对存储器进行异常掉电测试的装置
授权
摘要
本实用新型涉及存储器测试技术领域，为了解决通过手动操作测试硬盘质量存在容易出现误操作、记录错误的问题，本实用新型提供一种用于对存储器进行异常掉电测试的装置，该装置包括：供电模块、供电输出接口、计时器模块、计数器模块、状态采集端口、测试数据存储器模块。通过该装置，可以实现连续多次自动对硬盘掉电的测试，测试结果自动传输至该装置的存储器模块保存起来，从而自动获取测试结果，并且测试过程无需用户干预。
基本信息
专利标题 ：
用于对存储器进行异常掉电测试的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022285170.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-14
授权号 ：
CN213400574U
授权日 ：
2021-06-08
发明人 ：
汪明中
申请人 ：
厦门旌存半导体技术有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市中国(福建)自由贸易试验区厦门片区（保税港区）海景南二路45号4楼03单元F0100
代理机构 ：
北京康达联禾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
罗延红
优先权 ：
CN202022285170.2
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2021-06-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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